분석서비스 X선분석 및 Microscope

X선분석 및 Microscope X-선 분석은 XRD(X선 회절분석) 및 XRF(X선 형광분석)법으로 크게 나뉘어 진행을 하고 있습니다. 또한 SEM-EDAX를 통한 입자의 형상과 원소에 관한 정보를 측정할 수 있습니다.

XRD는 특정금속 (Cu등)으로부터 발생한 X-선을 시료에 조사하여, 발생하는 X-선의 회절 패턴으로부터 시료 내부의 입체적 배열구조를 분석하며, XRF는 특정금속(Rh 또는 Mo)부터 발생한 1차선을 시료에 조사하여 발생한 2차(형광) X선 신호를 파장별로 분광하여 검출하거는 WD형과 2차 X선 신호를 에너지 별로 분산 검출하는 ED형으로 나뉘게 됩니다.

    • XRD, X`PERT PRO MPD

      • Crystal Structure Analysis of thin Film or Powder Materials
      • Applications: Zeolite, Catalyst, Polymer inorganic filler etc.
      • Measure Range(2Ө): 0 to 140˚
      • Step Range(2Ө): 0.02˚
      • X-ray Source: Cu
      X-ray Diffractometer analyzer
      • 원리 회절 X-선을 이용한 원소분석
      • 응용 박막 또는 파우더의 결정구조 분석

        예) 탄소섬유, 고분자 filler, 불용성 유황 구조, 금속산화물 촉매 구조, 제올라이트 구조 CIGS 결정성, 전지소재(양극재/음극재)의 결정성 분석

      • 보유장비 PANalytical X’PERT PRO MPD, Light(X-ray)Source: Cu
    • WD-XRF(PW-2424 MagiX) 와 ED-XRF(Micro ED-XRF)

      • WDX, element Measurement: B to U
      • Light(X-ray) Source: 2.5kW Rh
      • Nondestructive Quantitative/Qualitative analysis of element and construct on the material
      • Applications: Plastic, Lamp oil distinguish, Sulfur content, Zeolite construct Catalysts element, Additive content etc.
      • EDX, element measurement: Na to U
      • 10~50 kv(1.0kV step)
      • 0.01~1.0 Ma(0.5uA step)
      • X-ray tube: Rh micro-focus anode
      • Window: Be window
      • Vacuum and Air System
      • Applications: Metal, Lipid, Geology, Petrochemistry etc.
      • Sample type: Solid, Powder, Liquid, Complete product sample etc.
      X-ray fluorescence analyzer
      • 원리 형광 X-선을 이용한 원소분석
      • 응용 재료의 조성 또는 원소를 비파괴적으로 정성/정량 분석

        예) 플라스틱 재질, 등유 식별제, 황함량, 미생물 발효 배지 내 금속, 제올라이드 조성, 촉매의 원소, 첨가제 함량, 소프트카본 내 원소 분석

      • 보유장비 PW-2424 MagiX (PW-2510 Auto sampler), Light(X-ray) Source : 2.4 Kw Rh
    • FT-IR, Nicolet 6700

      • 적외선 흡광 스펙트럼 분석
      • 적외선 빛을 Sample에 비춰 적외선을 흡수하는 정도(흡광도)를 측정하여 Sample의 종류(정성)를 측정하거나 Sample의 농도(정량)를 구할 수 있음
      • Applications: 잉크소재, 옥타가 향상제, 윤활기유, 플라스틱 구조 및 첨가제의 작용기 분석 등
      • 측정영역 : 20 ~ 27,000 cm-1
    • SEM-EDAX, QUANTA 250FEG

      • 일반적인 SEM보다 분해능이 뛰어나 고배율의 image관찰 가능
      • 전자빔에 damage입기 쉬운 시료에 대해 낮은 가속전압에서 고 배율 관찰용이
      • SEM-EDAX를 통한 원소측정 가능
      • 최대전압: 30 Kv(Field Emission Gun)
      • 확대범위: x40 ~ x 106
      • Silicon Drift Detector (SDD type: LN2 불필요)

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